電感耦合等離子體原子發射光譜(ICP-OES)分析法是近幾十年迅速發展起來的分析技術。它可以測定元素周期表中除少數元素以外的所有元素，具有靈敏度高、干擾少、線性范圍寬和同時測定或順序測定多元素等特點。
 

　　它是現代科學技術中的一種重要測試手段，已被各領域的檢測實驗室廣泛采用，目前已有大批檢測人員在從事該項技術工作。
 

　　接下來讓我們一起來了解一下ICP-OES常見的問題與技巧吧
 

　　1、在ICP-OES法中，為什么必須特別重視標準溶液的配置?
 

　　不正確的配置方法將導致系統偏差的產生;介質和酸度不合適，會產生沉淀和渾濁;元素分組不當，會引起元素間譜線干擾;試劑和溶劑純度不夠，會引起空白值增加、檢測限變差和誤差增大。
 

　　2、配制ICP分析用的多元素貯備標準溶液的注意事項
 

　　溶劑用高純酸或超純酸;用重蒸的離子交換水;使用光譜純、高純或基準物質;把有的元素元素分成幾組配制，避免譜線干擾或形成沉淀。比如測硅時就要單獨測硅。
 

　　3、當采用有機試劑進行ICP分析時，有哪些特殊要求?
 

　　高頻功率一般應高于水溶液試樣;冷卻氣流量要增高，載氣流量要減少，同時應通入較高流量的輔助氣;對炬管的結構和安裝也有某些特殊要求;多采用鏈狀結構的有機溶劑作稀釋劑。
 

　　4、電離干擾的消除和抑制
 

　　原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數減少，因而降低分析信號。在標準和分析試樣中加入過量的易電離元素，使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩定在相當高的水平上，從而抑制或消除分析元素的電離。此外，由于溫度愈高，電離度愈大，因此，降低溫度也可減少電離干擾。
 

　　5、試劑酸度對ICP-OES法的干擾效應主要表現在哪些方面?
 

　　提升率及其中元素的譜線強度均低于水溶液;隨著酸度增加，譜線強度顯著降低;各種無機酸的影響并不相同，按下列順序遞增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4;譜線強度的變化與提升率的變化成正比例。所以在ICP測試中，應盡量的避免使用H3PO4， H2SO4作為介質進行狹縫校正。
 

　　6、ICP-OES法中的光譜干擾主要存在的類型
 

　　譜線干擾;譜帶系對分析譜線的干擾;連續背景對分析譜線的干擾;雜散光引起的干擾;基體干擾;抑制干擾等。對于譜線干擾，一般選擇更換譜線，連續背景干擾一般用儀器自帶的扣背景的方法消除，基體干擾一般基體區配或標準加入法，抑制干擾一般是分離或基體區配。
 

　　7、ICP-OES法分析中靈敏度漂移的校正
 

　　在測定過程中，氣體壓力改變會影響到原子化效率和基態原子的分布;另外，毛細管阻塞、廢液排泄不暢，會使溶液提升量和霧化效率受到影響;以及電壓變化甚至環境溫度等諸多因素都會使靈敏度發生漂移，其校正方法可每測10個樣品加測一個與樣品組成接近的質控樣，并根據所用儀器的新舊程度適當縮短標準化的時間間隔。
 

　　8、ICP分析中如何避免樣品間的互相沾污?
 

　　測量時，不要依次測量濃度懸殊很大的樣品，可把濃度相近的樣品放在一起測定，測定樣品之間，應用蒸餾水沖洗，進標準樣品測試標準曲線時，應該從低標到高標儀次進樣。
 

　　9、影響等離子體溫度的因素
 

　?、佥d氣流量：流量增大，中心部位溫度下降;
 

　　②載氣的壓力：激發溫度隨載氣壓力的降低而增加;
 

　?、垲l率和輸入功率：激發溫度隨功率增大而增高，近似線性關系，在其他條件相同時，增加頻率，放電溫度降低;
 

　?、艿谌氐挠绊懀阂氲碗婋x電位的釋放劑的等離子體，電子溫度將增加。
 

　　10、ICP-OES法中，用來分解樣品的酸，必須滿足的條件
 

　　盡可能使各種元素迅速、*分解;所含待測元素的量可忽略不計;分解樣品時，待測元素不應損失;與待測元素間不形成不溶性物質;測定時共存元素的影響要小;不損傷霧化器、炬管等。氫氟酸能很快的損壞霧化器、霧室和炬管。